[实用新型]芯片测试系统有效
| 申请号： | 202123063120.0 | 申请日： | 2021-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN216956254U | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 陈超村;郑挺;郑朝生;张亦锋 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张艳美;刘光明 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试系统，其包括测试设备和芯片周转装置，测试设备包括测试箱，测试箱的一侧具有放置口，测试箱内放置有容置架，容置架上下间隔设置有多层第一承托架；芯片周转装置包括周转架和设置在周转架底部的行走机构，周转架上下间隔设置有多层第二承托架，多层第二承托架的至少部分和多层第一承托架的至少部分可被设置为两两相对；在行走机构的作用下，多层第二承托架的至少部分可分别对接至或者对应靠近多层第一承托架的至少部分以使第二承托架上的测试板能够沿第二承托架和第一承托架完全滑动至第一承托架。采用本实用新型芯片测试系统能够提升转移测试板的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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