[实用新型]芯片测试系统

权利要求书

1.一种芯片测试系统，用于对放置在测试板的芯片进行测试，其特征在于，包括：

测试设备，所述测试设备包括测试箱，所述测试箱的一侧具有放置口，所述放置口可在打开状态和关闭状态之间转换，所述测试箱内放置有容置架，所述容置架被配置为可对应所述放置口放置，所述容置架上下间隔设置有多层第一承托架；

芯片周转装置，所述芯片周转装置包括周转架和设置在所述周转架底部的行走机构，所述周转架上下间隔设置有多层第二承托架，多层所述第二承托架的至少部分和多层所述第一承托架的至少部分可被设置为两两相对；

在所述行走机构的作用下，多层所述第二承托架的至少部分可分别对接至或者对应靠近多层所述第一承托架的至少部分以使所述第二承托架上的测试板能够沿所述第二承托架和所述第一承托架完全滑动至所述第一承托架。

2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，每层所述第二承托架包括分别设置在所述周转架的相对两侧的两第一支架，两所述第一支架分别用于承托测试板的相对两侧。

3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第一支架包括沿纵向延伸的底板和侧板，所述侧板连接在所述底板的外侧，所述底板用于支撑测试板，所述侧板用于限制测试板的向外移动。

4.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第一支架包括供测试板滑出的出料端和远离所述出料端的限料端，所述限料端设置有限位件，所述限位件用于限制测试板的向后滑动。

5.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第一支架包括供测试板滑出的出料端，所述出料端形成有导引斜面，所述导引斜面用于引导测试板朝向对应的所述第一承托架滑动。

6.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述周转架包括底座、两竖向支撑架以及若干横向支架，所述横向支架的两端分别与两所述竖向支撑架固定连接，两所述竖向支撑架固定连接于所述底座，两所述竖向支撑架相对的一侧上下间隔设置有若干所述第一支架。

7.根据权利要求6所述的芯片测试系统，其特征在于，

多层所述第二承托架分别包括出料端，所述出料端在测试板的出料方向上超出所述竖向支撑架；

所述行走机构包括设置在所述底座的底部的连接支架、至少两第一滑轮和第二滑轮，所述连接支架和所述第二滑轮分别安装在所述底座沿所述出料方向的前后两端，所述连接支架在所述出料方向上超出所述底座，所述第一滑轮分别安装在所述连接支架，其中至少一个所述第一滑轮安装在所述连接支架在所述出料方向上超出所述底座的位置，所述连接支架部分移动至所述测试箱的下方。

8.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，每层所述第一承托架包括两相对设置的第二支架，所述第二支架用于承托进入所述容置架的测试板相对的两端；两相对设置的所述第二支架分别形成有沿纵向延伸的槽道，所述槽道的外侧形成限位壁，所述槽道的内侧敞开，测试板从所述第二承托架滑入所述第一承托架时，测试板两侧分别滑入所述槽道。

9.根据权利要求8所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第二支架包括上下相对设置的上板和下板，所述槽道形成在所述上板和所述下板之间，所述上板靠近所述放置口的一端形成有向上倾斜的导引面，所述下板靠近所述放置口的一端形成有向下倾斜的导引面；所述第二支架远离所述放置口的一端设置有用于限制测试板滑动的止挡结构。

10.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试箱具有所述放置口的一侧对应所述周转架设置有吸附装置，于所述周转架移动至所述测试箱处并使得所述第二承托架与所述第一承托架形成对接时，所述吸附装置能够将所述周转架吸附固定。