[实用新型]一种用于芯片检验的治具有效
| 申请号： | 202122969432.1 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN217112421U | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 骆娴 | 申请（专利权）人： | 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 绍兴市知衡专利代理事务所(普通合伙) 33277 | 代理人： | 张媛 |
| 地址： | 312000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种用于芯片检验的治具，包括基板和盖板，基板上设有用于放置芯片的容纳空间；容纳空间与外界连通，形成连通口，盖板装配在连通口处；盖板中与容纳空间相对应的部位为观察窗，用于观察放置在容纳空间内的芯片结构。该治具具有检验方便、快速，芯片不易掉落损毁的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 检验 | ||
【主权项】：
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