[实用新型]一种flash芯片测试分析装置有效
| 申请号： | 202122447177.4 | 申请日： | 2021-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN216561761U | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 张朋 | 申请（专利权）人： | 苏州新发旺电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;F16F15/067;B25B11/00 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 刘艳春 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱，所述检测箱内设有真空承载座，所述真空承载座底部设有减震支撑架，所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组，所述减震支撑架包括两个L形立板，两个所述L形立板之间安装有上支撑板和下支撑板，所述上支撑板和下支撑板之间设有多个第一弹簧，所述上支撑板底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒，所述滑动套筒的下部套设有压板，所述滑动套筒内设有导向杆，所述导向杆的外壁上套设有第二弹簧。本实用新型通过L形立板、第一弹簧、上支撑板、下支撑板、滑动套筒、压板和第二弹簧，能有效缓冲真空承载座受到的震动，减震效果好，从而能有效避免芯片受损的情况出现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 flash 芯片 测试 分析 装置 | ||
【主权项】：
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