[实用新型]一种flash芯片测试分析装置

权利要求书

1.一种flash芯片测试分析装置，包括检测箱(1)，其特征在于：所述检测箱(1)内设有真空承载座(3)，所述真空承载座(3)底部设有减震支撑架，所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组(2)，所述减震支撑架包括两个L形立板(15)，两个所述L形立板(15)均与直线模组(2)的滑座固定连接，两个所述L形立板(15)之间安装有上支撑板(14)和下支撑板(13)，所述上支撑板(14)和下支撑板(13)之间并排设有多个第一弹簧(16)，所述第一弹簧(16)的两端分别与上支撑板(14)和下支撑板(13)固定连接，所述上支撑板(14)底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒(17)，所述滑动套筒(17)的底端贯穿下支撑板(13)并与其呈滑动连接，所述滑动套筒(17)的下部套设有压板(18)，所述滑动套筒(17)内设有导向杆(19)，所述导向杆(19)的底端贯穿滑动套筒(17)并与L形立板(15)固定连接，所述导向杆(19)与滑动套筒(17)呈滑动连接，所述导向杆(19)的顶端安装有限位板，所述导向杆(19)的外壁上套设有第二弹簧(20)，所述第二弹簧(20)的两端分别与压板(18)和L形立板(15)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种flash芯片测试分析装置，其特征在于：所述上支撑板(14)的顶部中心处安装有固定块(5)，所述固定块(5)的顶部中心处开设有定位槽(6)，所述定位槽(6)的两侧分别设有滑动通孔(7)和卡槽(8)，所述滑动通孔(7)与卡槽(8)一一对应，所述滑动通孔(7)和卡槽(8)均设有两个并呈对称设置，所述滑动通孔(7)和卡槽(8)均与定位槽(6)相贯通，所述滑动通孔(7)内滑动连接有推拉块(10)，所述推拉块(10)的一侧安装有卡杆(11)，所述卡杆(11)与卡槽(8)插接连接，所述卡杆(11)的外壁上套设有第三弹簧(9)，所述第三弹簧(9)的两端分别与固定块(5)和推拉块(10)固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种flash芯片测试分析装置，其特征在于：所述真空承载座(3)的底部安装有定位插块(4)，所述定位插块(4)上开设有插孔，所述插孔设有两个并呈对称设置，所述插孔与卡杆(11)相匹配。

4.根据权利要求2所述的一种flash芯片测试分析装置，其特征在于：所述推拉块(10)远离卡杆(11)的一侧设有拉杆(12)，所述拉杆(12)与推拉块(10)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种flash芯片测试分析装置，其特征在于：所述真空承载座(3)内设有若干条抽气管路，所述真空承载座(3)顶部开设有若干个抽气孔，所述抽气孔与抽气管路的进气口相连。

6.根据权利要求1所述的一种flash芯片测试分析装置，其特征在于：所述滑动套筒(17)的上部安装有限位杆(21)，所述限位杆(21)与滑动套筒(17)的外壁固定连接。