[实用新型]一种flash芯片测试分析装置有效
| 申请号: | 202122447177.4 | 申请日: | 2021-10-12 |
| 公开(公告)号: | CN216561761U | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
| 发明(设计)人: | 张朋 | 申请(专利权)人: | 苏州新发旺电子技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;F16F15/067;B25B11/00 |
| 代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 刘艳春 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 flash 芯片 测试 分析 装置 | ||
本实用新型公开了一种flash芯片测试分析装置,包括检测箱,所述检测箱内设有真空承载座,所述真空承载座底部设有减震支撑架,所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组,所述减震支撑架包括两个L形立板,两个所述L形立板之间安装有上支撑板和下支撑板,所述上支撑板和下支撑板之间设有多个第一弹簧,所述上支撑板底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒,所述滑动套筒的下部套设有压板,所述滑动套筒内设有导向杆,所述导向杆的外壁上套设有第二弹簧。本实用新型通过L形立板、第一弹簧、上支撑板、下支撑板、滑动套筒、压板和第二弹簧,能有效缓冲真空承载座受到的震动,减震效果好,从而能有效避免芯片受损的情况出现。
技术领域
本实用新型涉及芯片测试领域,具体涉及一种flash芯片测试分析装置。
背景技术
flash芯片是应用非常广泛的存储材料,flash芯片出厂之前需要进行测试,以确定芯片的性能、大致使用寿命等,目前我们一般使用测试分析装置来进行芯片的测试和分析,将flash芯片放置在真空载物台上进行测试,利用真空载物台承载芯片能有效避免芯片表面受损的情况。
现有的测试分析装置的真空载物台一般不具有减震功能,因此在真空载物台移动过程中,芯片可能会由于震动而受损。
因此,发明一种flash芯片测试分析装置来解决上述问题很有必要。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种flash芯片测试分析装置,以解决现有的测试分析装置的真空载物台一般不具有减震功能,在移动过程中芯片可能会由于震动而受损的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种flash芯片测试分析装置,包括检测箱,所述检测箱内设有真空承载座,所述真空承载座底部设有减震支撑架,所述减震支撑架的外侧对称安装有直线模组,所述减震支撑架包括两个L形立板,两个所述L形立板均与直线模组的滑座固定连接,两个所述L形立板之间安装有上支撑板和下支撑板,所述上支撑板和下支撑板之间并排设有多个第一弹簧,所述第一弹簧的两端分别与上支撑板和下支撑板固定连接,所述上支撑板底部的四个顶角处逐一安装有滑动套筒,所述滑动套筒的底端贯穿下支撑板并与其呈滑动连接,所述滑动套筒的下部套设有压板,所述滑动套筒内设有导向杆,所述导向杆的底端贯穿滑动套筒并与L形立板固定连接,所述导向杆与滑动套筒呈滑动连接,所述导向杆的顶端安装有限位板,所述导向杆的外壁上套设有第二弹簧,所述第二弹簧的两端分别与压板和L形立板固定连接。
优选的,所述上支撑板的顶部中心处安装有固定块,所述固定块的顶部中心处开设有定位槽,所述定位槽的两侧分别设有滑动通孔和卡槽,所述滑动通孔与卡槽一一对应,所述滑动通孔和卡槽均设有两个并呈对称设置,所述滑动通孔和卡槽均与定位槽相贯通,所述滑动通孔内滑动连接有推拉块,所述推拉块的一侧安装有卡杆,所述卡杆与卡槽插接连接,所述卡杆的外壁上套设有第三弹簧,所述第三弹簧的两端分别与固定块和推拉块固定连接。
优选的,所述真空承载座的底部安装有定位插块,所述定位插块上开设有插孔,所述插孔设有两个并呈对称设置,所述插孔与卡杆相匹配。
优选的,所述推拉块远离卡杆的一侧设有拉杆,所述拉杆与推拉块固定连接。
优选的,所述真空承载座内设有若干条抽气管路,所述真空承载座顶部开设有若干个抽气孔,所述抽气孔与抽气管路的进气口相连。
优选的,所述滑动套筒的上部安装有限位杆,所述限位杆与滑动套筒的外壁固定连接。
在上述技术方案中,本实用新型提供的技术效果和优点:
1、通过L形立板、第一弹簧、上支撑板、下支撑板、滑动套筒、压板和第二弹簧,能有效缓冲真空承载座受到的震动,减震效果好,从而能有效避免芯片受损的情况出现;
2、通过固定块、定位槽、卡槽、拉杆、卡杆、第三弹簧、定位插块、插孔和推拉块,实现了真空承载座的安装,且拆卸方便,便于后续更换或维修真空承载座。
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