[实用新型]一种半导体测试装置有效
| 申请号： | 202122445779.6 | 申请日： | 2021-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN216013571U | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 赖士文;储利强;邱景来;陈象象;吴仲山 | 申请（专利权）人： | 昆山乔格里光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海塔科专利代理事务所(普通合伙) 31380 | 代理人： | 许新蕊 |
| 地址： | 215553 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种半导体测试装置，包括工作台，工作台上端面开设有滑槽，滑槽内滑动设有滑板，滑槽内转动设有螺纹杆，螺纹杆和滑板螺纹连接，螺纹杆向右延伸贯穿工作台，螺纹杆右端连接设有伺服电机，滑板上端面左右两侧均设有夹持机构，夹持机构包括固定板、活动板和连接杆，固定板和活动板间隔均匀设置有多个，连接杆对称设置有两个，多个活动板和两个连接杆分别固定安装，多个固定板和两个连接杆分别滑动安装，相邻多个固定板和活动板之间均连接设有弹簧，多个弹簧均安装在连接杆外侧，多个连接杆相对面一侧均设有限位环；滑板的设计，提高效率；夹持机构的设计，方便夹持；防尘罩的设计，保证防尘。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 装置 | ||
【主权项】：
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