[实用新型]一种半导体测试装置

权利要求书

1.一种半导体测试装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)上端面开设有滑槽(2)，所述滑槽(2)内滑动设有滑板(3)，所述滑槽(2)内转动设有螺纹杆(4)，所述螺纹杆(4)和滑板(3)螺纹连接，所述螺纹杆(4)向右延伸贯穿所述工作台(1)，所述螺纹杆(4)右端连接设有伺服电机(5)，所述滑板(3)上端面左右两侧均设有夹持机构，所述夹持机构包括固定板(6)、活动板(7)和连接杆(8)，所述固定板(6)和活动板(7)间隔均匀设置有多个，所述连接杆(8)对称设置有两个，多个所述活动板(7)和两个所述连接杆(8)分别固定安装，多个所述固定板(6)和两个所述连接杆(8)分别滑动安装，相邻多个所述固定板(6)和活动板(7)之间均连接设有弹簧(9)，多个所述弹簧(9)均安装在所述连接杆(8)外侧，多个所述连接杆(8)相对面一侧均设有限位环(10)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于：所述工作台(1)上端面中心位置设有防尘罩(11)，所述防尘罩(11)设置为底端开口状，所述防尘罩(11)左右两端底部均开设有通槽(12)，两个所述通槽(12)顶端均设有防尘帘(13)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试装置，其特征在于：所述防尘罩(11)下端面设有定位杆(14)，所述工作台(1)上端面对应所述定位杆(14)开设有定位孔(15)，所述定位杆(14)和定位孔(15)均设置有多个。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试装置，其特征在于：所述防尘罩(11)上端面设有第一把手(16)，所述防尘罩(11)前端设有观察窗(17)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于：多个所述固定板(6)和活动板(7)相对面一侧均开设有安装槽(18)。

6.根据权利要求5所述的一种半导体测试装置，其特征在于：多个所述安装槽(18)内壁上均设有防滑橡胶垫(19)。

7.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于：多个所述连接杆(8)远离所述限位环(10)一端均设有第二把手(20)。