[实用新型]一种半导体测试装置

说明书

本实用新型涉及一种半导体测试装置，包括工作台，工作台上端面开设有滑槽，滑槽内滑动设有滑板，滑槽内转动设有螺纹杆，螺纹杆和滑板螺纹连接，螺纹杆向右延伸贯穿工作台，螺纹杆右端连接设有伺服电机，滑板上端面左右两侧均设有夹持机构，夹持机构包括固定板、活动板和连接杆，固定板和活动板间隔均匀设置有多个，连接杆对称设置有两个，多个活动板和两个连接杆分别固定安装，多个固定板和两个连接杆分别滑动安装，相邻多个固定板和活动板之间均连接设有弹簧，多个弹簧均安装在连接杆外侧，多个连接杆相对面一侧均设有限位环；滑板的设计，提高效率；夹持机构的设计，方便夹持；防尘罩的设计，保证防尘。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试技术领域，具体为一种半导体测试装置。

背景技术

半导体是利用电光子转换效应制成的各种功能器件。如半导体光电探测器、光电倍增管、微光像增强器、真空摄像管、CCD和CMOS成像器件、致冷和非致冷红外成像器件、紫外成像器件和X射线成像器件等，现有的半导体在生产完成后需要对其进行检测，现有的例如专利号为202022792258.3的专利，包括测试主体、装置主杆和检测器等，虽然该装置方便工作人员进行检测，大大提升了装置使用的便捷性，但是装置在使用时不方便对多个半导体同时进行检测，安装和拆卸效率有待提高，且状锥整体缺少合适的防尘结构。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种半导体测试装置。

(二)技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试装置，包括工作台，所述工作台上端面开设有滑槽，所述滑槽内滑动设有滑板，所述滑槽内转动设有螺纹杆，所述螺纹杆和滑板螺纹连接，所述螺纹杆向右延伸贯穿所述工作台，所述螺纹杆右端连接设有伺服电机，所述伺服电机连接外部电源，所述滑板上端面左右两侧均设有夹持机构，所述夹持机构包括固定板、活动板和连接杆，所述固定板和活动板间隔均匀设置有多个，所述连接杆对称设置有两个，多个所述活动板和两个所述连接杆分别固定安装，多个所述固定板和两个所述连接杆分别滑动安装，相邻多个所述固定板和活动板之间均连接设有弹簧，多个所述弹簧均安装在所述连接杆外侧，多个所述连接杆相对面一侧均设有限位环。

在进一步中优选的是，所述工作台上端面中心位置设有防尘罩，所述防尘罩设置为底端开口状，所述防尘罩左右两端底部均开设有通槽，两个所述通槽顶端均设有防尘帘，对检测过程实现防尘。

在进一步中优选的是，所述防尘罩下端面设有定位杆，所述工作台上端面对应所述定位杆开设有定位孔，所述定位杆和定位孔均设置有多个，方便防尘罩定位安装。

在进一步中优选的是，所述防尘罩上端面设有第一把手，所述防尘罩前端设有观察窗，方便对内部进行观察，方便拆卸操作。

在进一步中优选的是，多个所述固定板和活动板相对面一侧均开设有安装槽，限位安装。

在进一步中优选的是，多个所述安装槽内壁上均设有防滑橡胶垫，保证夹持稳定。

在进一步中优选的是，多个所述连接杆远离所述限位环一端均设有第二把手，方便对连接杆进行操作。

(三)有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种半导体测试装置，具备以下有益效果：