[实用新型]探针及集成电路测试设备有效
| 申请号： | 202122292924.1 | 申请日： | 2021-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN216411366U | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 段超毅;蒋伟;周闯 | 申请（专利权）人： | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 张小容 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提出一种探针及集成电路测试设备，所述探针包括由上到下依次设置的第一接触段、连接段和第二接触段，所述第一接触段上端用于接触测试IC，所述第二接触段下端用于接触测试PCB；所述第一接触段、所述连接段、所述第二接触段一体化设置，所述连接段在竖直方向上可发生弹性形变。如此，本实用新型解决了现有技术中阻抗较大，各探针之间阻抗一致较差、装配成本较高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 集成电路 测试 设备 | ||
【主权项】：
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