[实用新型]探针及集成电路测试设备

权利要求书

1.一种探针，用于集成电路的测试，其特征在于，所述探针包括由上到下依次设置的第一接触段、连接段和第二接触段，所述第一接触段上端用于接触测试IC，所述第二接触段下端用于接触测试PCB；

所述第一接触段、所述连接段、所述第二接触段一体化设置，所述连接段在竖直方向上可发生弹性形变。

2.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述连接段包括有缺口的环状结构，所述缺口的上侧设置有第一自由端，所述缺口的下侧设置有第二自由端，当所述探针受力压缩时，所述第一自由端和所述第二自由端相互靠近。

3.如权利要求2所述的探针，其特征在于，所述连接段呈C形件设置，所述C形件包括第一缺口，所述第一自由端、所述第二自由端分别设置于所述第一缺口的上下两侧，所述C形件底端用于与所述测试PCB接触，当所述探针受力压缩时，所述第一自由端和所述第二自由端相互接触。

4.如权利要求2所述的探针，其特征在于，所述连接段呈S形件设置，所述S形件包括由上至下设置的第二缺口和第三缺口，所述第二缺口上侧设置有第一自由端，所述第三缺口下侧设置有第二自由端，所述第三缺口和所述第二缺口之间设置有过渡段，所述S形件底端用于与所述测试PCB接触，当所述探针受力压缩时，所述第一自由端和所述过渡段接触，所述第二自由端和所述过渡段接触；或者，

所述连接段呈m形件设置；或者，

所述连接段呈8字形件设置；或者，

所述连接段呈环形件设置；或者，

所述第二接触段呈倒梯形件设置；或者，

所述第二接触段呈三角件设置；或者，

所述第二接触段呈半框形件设置；或者，

所述连接段包括环形件以及有缺口的环状结构，其中，所述环形件设置于所述有缺口的环状结构下方；或者，所述环形件设置于所述有缺口的环状结构上方。

5.如权利要求2所述的探针，其特征在于，所述探针还包括支撑部，所述测试IC和所述测试PCB之间设置有支撑板，所述支撑部用于与所述支撑板内壁接触，以避免所述探针晃动。

6.如权利要求5所述的探针，其特征在于，所述支撑部包括第一支撑部和第二支撑部，所述第一支撑部设置于所述第一自由端和所述第一接触段之间，所述第二支撑部设置于所述第二自由端和所述第二接触段之间。

7.如权利要求6所述的探针，其特征在于，所述第一支撑部、所述第二支撑部呈上下对称设置。

8.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述第一接触段上端形成有接触面；或者，

所述第一接触段上端或者所述第一接触段上端形成有多个接触凸起；或者，

所述第一接触段上端形成有单个接触凸起；或者，

所述第一接触段上端呈W形件或V形件或U形件设置。

9.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述第二接触段下端形成有接触面；或者，

所述第一接触段上端或者所述第二接触段下端形成有多个接触凸起；或者，

所述第二接触段下端形成有单个接触凸起；或者，

所述第二接触段下端呈W形件或V形件或U形件设置。

10.一种集成电路测试设备，其特征在于，所述集成电路测试设备包括如权利要求1至9任意一项所述的探针。