[实用新型]一种硅基液晶芯片的测试装置有效
| 申请号： | 202122053503.3 | 申请日： | 2021-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN215986794U | 公开（公告）日： | 2022-03-08 |
| 发明（设计）人： | 郭金平;杨睿;杨柳;王凡;马雨虹;禤颖仪 | 申请（专利权）人： | 武汉光迅科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 高天华;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种硅基液晶芯片的测试装置，包括：依次设置在入射光光路上的第一准直器、检偏器、复合透镜以及硅基液晶(LCOS)芯片，入射光经所述第一准直器、所述检偏器和所述复合透镜到达所述LCOS芯片，所述LCOS芯片用于对所述入射光进行偏转后出射；出射光包括多种角度；所述装置还包括设置在出射光路上的第二准直器，以及光功率设备；所述复合透镜用于将所述LCOS芯片偏转后的出射光变换为平行的出射光；所述第二准直器用于接收并发出经所述复合透镜的所述平行的出射光；所述光功率设备连接所述第二准直器的输出端，用于采集所述第二准直器发出的出射光的功率。本实用新型的硅基液晶芯片的测试装置结构简单，可快速测量LCOS芯片的光学性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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