[实用新型]一种新型芯片测试装置有效
| 申请号： | 202121855946.8 | 申请日： | 2021-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN216144915U | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 黄哲尔;沈义明;韦宗专 | 申请（专利权）人： | 上海凌测电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人： | 何艳娥 |
| 地址： | 201805 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种新型芯片测试装置，包括底板、安装板、安装架和滑动箱，安装板固定连接于底板上表面中心处，安装架底端分别与底板上表面左右两侧固定连接；安装板上表面等距离横向开设有三道放置槽，滑动箱内滑动连接有活动块，活动块下端设有套筒，活动块与套筒之间固定连接有连接块，套筒底端插接有滑动筒，套筒内顶面固定连接有固定杆，固定杆底端固定连接有安装座，安装座底面固定连接有探针头；本实用新型的有益效果在于：能够对多种不同尺寸的芯片进行有效夹持，避免芯片发生纵向滑动，且能够通过滑动筒进一步避免芯片发生滑动，起到提高测试的稳定性的作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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