[实用新型]一种新型芯片测试装置

权利要求书

1.一种新型芯片测试装置，包括底板(1)、安装板(2)、安装架(4)和滑动箱(8)，所述安装板(2)固定连接于所述底板(1)上表面中心处，所述安装架(4)底端分别与所述底板(1)上表面左右两侧固定连接，其特征在于：

所述安装板(2)上表面等距离横向开设有三道放置槽(3)，所述滑动箱(8)内滑动连接有活动块(9)，所述活动块(9)下端设有套筒(11)，所述活动块(9)与所述套筒(11)之间固定连接有连接块(10)，所述套筒(11)底端插接有滑动筒(12)，所述套筒(11)内顶面固定连接有固定杆(13)，所述固定杆(13)底端固定连接有安装座(1301)，所述安装座(1301)底面固定连接有探针头(14)，所述滑动箱(8)设有三个，三个所述滑动箱(8)等距离横向固定连接于所述固定板(7)底面。

2.根据权利要求1所述的一种新型芯片测试装置，其特征在于：所述安装架(4)顶面安装有测试仪(5)，所述安装架(4)底面安装有一对电动伸缩杆(6)，两根所述电动伸缩杆(6)底端之间设置有固定板(7)。

3.根据权利要求1所述的一种新型芯片测试装置，其特征在于：所述放置槽(3)由三个从左至右依次缩小的空腔构成，所述放置槽(3)内设置有夹持板(32)，所述夹持板(32)与所述放置槽(3)内左侧面之间固定连接有一对夹持弹簧(31)，所述夹持板(32)的宽度与其中最小的一个空腔的宽度相匹配。

4.根据权利要求1所述的一种新型芯片测试装置，其特征在于：所述滑动箱(8)前侧面开设有螺钉滑槽(81)，所述滑动箱(8)后侧面等距离开设有三道螺钉孔(82)。

5.根据权利要求4所述的一种新型芯片测试装置，其特征在于：所述活动块(9)内螺纹连接有螺钉(91)，所述螺钉(91)依次穿过所述螺钉滑槽(81)、活动块(9)和螺钉孔(82)，所述活动块(9)通过所述螺钉(91)固定于所述滑动箱(8)内。

6.根据权利要求1所述的一种新型芯片测试装置，其特征在于：所述套筒(11)内设有套于所述固定杆(13)外侧面的套筒弹簧(1101)，所述套筒弹簧(1101)底端与所述滑动筒(12)顶端接触。