[实用新型]一种新型芯片测试装置

说明书

本实用新型提供了一种新型芯片测试装置，包括底板、安装板、安装架和滑动箱，安装板固定连接于底板上表面中心处，安装架底端分别与底板上表面左右两侧固定连接；安装板上表面等距离横向开设有三道放置槽，滑动箱内滑动连接有活动块，活动块下端设有套筒，活动块与套筒之间固定连接有连接块，套筒底端插接有滑动筒，套筒内顶面固定连接有固定杆，固定杆底端固定连接有安装座，安装座底面固定连接有探针头；本实用新型的有益效果在于：能够对多种不同尺寸的芯片进行有效夹持，避免芯片发生纵向滑动，且能够通过滑动筒进一步避免芯片发生滑动，起到提高测试的稳定性的作用。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体的说，本实用新型涉及一种新型芯片测试装置。

背景技术

芯片是半导体元件的统称，又称微电路，是电路小型化的运用方式之一，并通常制造在半导体晶圆表面上，芯片在制备完成后，会根据需求不同制备出不同封装结构的芯片，封装结构的不同会造成芯片尺寸的差异，现有的芯片测试装置对于不同尺寸的芯片的适应性较差，且现有的芯片测试装置在对芯片进行测试时，探针头与芯片接触前，探针头与芯片易发生偏移的现象，导致测试失准或测试失败，使用是否不便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种新型芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

一种新型芯片测试装置，包括底板、安装板、安装架和滑动箱，所述安装板固定连接于所述底板上表面中心处，所述安装架底端分别与所述底板上表面左右两侧固定连接；

所述安装板上表面等距离横向开设有三道放置槽，所述滑动箱内滑动连接有活动块，所述活动块下端设有套筒，所述活动块与所述套筒之间固定连接有连接块，所述套筒底端插接有滑动筒，所述套筒内顶面固定连接有固定杆，所述固定杆底端固定连接有安装座，所述安装座底面固定连接有探针头，所述滑动箱设有三个，三个所述滑动箱等距离横向固定连接于所述固定板底面。

进一步的优选方案：所述安装架顶面安装有测试仪，所述安装架底面安装有一对电动伸缩杆，两根所述电动伸缩杆底端之间设置有固定板。

进一步的优选方案：所述放置槽由三个从左至右依次缩小的空腔构成，所述放置槽内设置有夹持板，所述夹持板与所述放置槽内左侧面之间固定连接有一对夹持弹簧，所述夹持板的宽度与其中最小的一个空腔的宽度相匹配。

进一步的优选方案：所述滑动箱前侧面开设有螺钉滑槽，所述滑动箱后侧面等距离开设有三道螺钉孔。

进一步的优选方案：所述活动块内螺纹连接有螺钉，所述螺钉依次穿过所述螺钉滑槽、活动块和螺钉孔，所述活动块通过所述螺钉固定于所述滑动箱内。

进一步的优选方案：所述套筒内设有套于所述固定杆外侧面的套筒弹簧，所述套筒弹簧底端与所述滑动筒顶端接触。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过放置槽内部从左至右开设的三个大小不同的空腔，能够起到适用于多种尺寸的芯片夹持固定的效果，尺寸较大的芯片右侧面与放置槽内部开设的最大空腔右侧面接触，通过夹持板进行夹持，尺寸较小的芯片右侧点与放置槽内部开设的最小空腔右侧面接触，夹持板的长度与其中最小的空腔长度相同，以便于能够对小尺寸的芯片进行有效的夹持，通过套筒和滑动筒结构吗，能够加强芯片的稳定性，使探针头能够精确的在芯片对应位置进行测试，起到避免芯片和探针头发生偏移，提高测试稳定性的效果。

附图说明

图1为本实用新型的整体正视立体示意图；

图2为本实用新型的正视剖面示意图；

图3为本实用新型的滑动箱和活动块拆解结构示意图；

图4为本实用新型A局部放大结构示意图；

图5为本实用新型B局部放大结构示意图。