[实用新型]谷物粒检查器有效
| 申请号： | 202121666608.X | 申请日： | 2021-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN215448886U | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 池田学 | 申请（专利权）人： | 株式会社佐竹 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;杜嘉璐 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本实用新型的课题在于提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器，谷物粒检查器(1)具备：对配置于检查位置的试样盘(7)上的谷物粒进行检测的传感器(31)；以及用于传感器(31)的校正且在进行传感器(31)的校正的校正位置与从校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件(9)，在试样盘(7)配置于检查位置时，基准部件(9)从试样盘(7)受到按压力而从校正位置向退避位置运动。 | ||
| 搜索关键词： | 谷物 检查 | ||
【主权项】：
暂无信息
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