[实用新型]谷物粒检查器有效
| 申请号： | 202121666608.X | 申请日： | 2021-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN215448886U | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 池田学 | 申请（专利权）人： | 株式会社佐竹 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;杜嘉璐 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 谷物 检查 | ||
【权利要求书】：
1.一种谷物粒检查器，其特征在于，具备：
对配置于检查位置的试样盘上的谷物粒进行检测的传感器；以及
用于上述传感器的校正且在进行上述传感器的校正的校正位置与从上述校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件，
在上述试样盘配置于上述检查位置时，上述基准部件从上述试样盘受到按压力而从上述校正位置向上述退避位置运动。
2.根据权利要求1所述的谷物粒检查器，其特征在于，
还具备朝向上述校正位置对上述基准部件进行施力的施力部件。
3.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，
上述试样盘具有载置上述谷物粒的载置部，
在载置于上述载置部的上述谷物粒由上述传感器检测时的上述传感器与载置于上述载置部的上述谷物粒之间的上下方向的距离、和在上述基准部件配置于上述校正位置时的上述传感器与上述基准部件之间的距离相同。
4.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，
上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在直线上运动。
5.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，
上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在圆弧上运动。
6.根据权利要求1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，
上述基准部件具有颜色相互不同的多个区域。
7.根据权利要求6所述的谷物粒检查器，其特征在于，
上述基准部件在上述多个区域的边界处分割成多个部件。
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