[实用新型]谷物粒检查器

说明书

本实用新型的课题在于提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器，谷物粒检查器(1)具备：对配置于检查位置的试样盘(7)上的谷物粒进行检测的传感器(31)；以及用于传感器(31)的校正且在进行传感器(31)的校正的校正位置与从校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件(9)，在试样盘(7)配置于检查位置时，基准部件(9)从试样盘(7)受到按压力而从校正位置向退避位置运动。

技术领域

本实用新型涉及一种用于检查谷物粒的品质的谷物粒检查器。

背景技术

现今，已知有以下谷物粒检查器：由传感器接收照射到谷物粒的光的透射光或反射光，并基于由传感器接收到的光的光量来检查谷物粒有无破裂等。为了在谷物粒检查器中高精度地保持传感器的检测精度，需要进行传感器的校正。例如，在日本特开2016-125867号公报中记载有使用由颜色的浓度互不相同的多个板构成的基准板进行传感器的校正的谷物粒检查器。该谷物粒检查器利用马达的驱动力使传感器在谷物粒的检测位置与基准板的检测位置之间移动。也就是说，传感器在谷物粒的检测位置检测谷物粒，在基准板的检测位置进行校正。

但是，在使用马达使传感器移动的情况下，需要用于将马达的动力传递至传感器的动力传递机构等，谷物粒检查器的构造变得复杂。

本实用新型的目的在于，提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器。

实用新型内容

方案1是一种谷物粒检查器，其特征在于，具备：

对配置于检查位置的试样盘上的谷物粒进行检测的传感器；以及

用于上述传感器的校正且在进行上述传感器的校正的校正位置与从上述校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件，

在上述试样盘配置于上述检查位置时，上述基准部件从上述试样盘受到按压力而从上述校正位置向上述退避位置运动。

方案2根据方案1所述的谷物粒检查器，其特征在于，

还具备朝向上述校正位置对上述基准部件进行施力的施力部件。

方案3根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述试样盘具有载置上述谷物粒的载置部，

在载置于上述载置部的上述谷物粒由上述传感器检测时的上述传感器与载置于上述载置部的上述谷物粒之间的上下方向的距离、和在上述基准部件配置于上述校正位置时的上述传感器与上述基准部件之间的距离相同。

方案4根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在直线上运动。

方案5根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述校正位置与上述退避位置之间在圆弧上运动。

方案6根据方案1或2所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件具有颜色相互不同的多个区域。

方案7根据方案6所述的谷物粒检查器，其特征在于，

上述基准部件在上述多个区域的边界处分割成多个部件。

根据本实用新型的谷物粒检查器，能够利用简单的构造来进行传感器的校正。

附图说明

参照附图并根据以下的实施例的说明，本实用新型的上述及其它目的、特征会变得明确。这些附图如下。

图1是示出谷物粒检查器的简要结构的纵剖视图。

图2是试样盘的立体图。