[实用新型]一种立式半导体晶圆TTV干涉测试装置有效
| 申请号: | 202121558153.X | 申请日: | 2021-07-09 |
| 公开(公告)号: | CN215064363U | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
| 发明(设计)人: | 赵智亮;陈立华;赵子嘉;张志华;葛瑞红 | 申请(专利权)人: | 成都太科光电技术有限责任公司 |
| 主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;H01L21/66 |
| 代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 彭思雨 |
| 地址: | 610000 四川省成都市温*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | 本申请涉及半导体行业的晶圆检测技术领域,公开了一种立式半导体晶圆TTV干涉测试装置,所述装置由激光扩束准直单元、干涉成像单元、干涉测量单元以及整机调试单元构成。本申请在测量时,能够还原晶圆实际工作状态,因此能够测试晶圆实际工作状态下的参数,测试结果更加准确,精度更高,并且成本也更低。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 立式 半导体 ttv 干涉 测试 装置 | ||
【主权项】:
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