[实用新型]一种相控阵检测校准试块有效
| 申请号： | 202121302520.X | 申请日： | 2021-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN215179931U | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 闫伟明;赖通;舒洁;蒋强;袁玉;李治乾 | 申请（专利权）人： | 重庆建工无损检测工程有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 北京中建联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11004 | 代理人： | 郑广建;王永新 |
| 地址： | 400051 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种相控阵检测校准试块，其包括主体部为矩形块，其顶面配置有台阶结构，相邻台阶结构的高度差相等；所述台阶结构还配置有测试孔，所述测试孔沿所述主体部的纵向设置，其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成；相邻测试孔的纵向长度不同；所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构，台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。本实用新型提供的一种相控阵检测校准试块，用于不等厚复杂铸铁件的无损检测，其结构合理，使用方便，通过一个校准试块完成校核，提高了校核效率，有利于准确高效的完成相关测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相控阵 检测 校准 | ||
【主权项】：
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