[实用新型]一种相控阵检测校准试块

说明书

本实用新型公开了一种相控阵检测校准试块，其包括主体部为矩形块，其顶面配置有台阶结构，相邻台阶结构的高度差相等；所述台阶结构还配置有测试孔，所述测试孔沿所述主体部的纵向设置，其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成；相邻测试孔的纵向长度不同；所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构，台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。本实用新型提供的一种相控阵检测校准试块，用于不等厚复杂铸铁件的无损检测，其结构合理，使用方便，通过一个校准试块完成校核，提高了校核效率，有利于准确高效的完成相关测试。

技术领域

本实用新型属于建筑工程技术领域，涉及一种相控阵检测校准试块。

背景技术

相控阵广泛用于建筑，管道和发电等多个工业领域的无损检测。此方法是一种先进的无损检测方法，用于检测不连续性并由此确定组件质量。由于可以控制诸如光束角度和焦距之类的参数，因此该方法在缺陷检测和测试速度方面非常有效。

为实现更快、更安全的检测，一般会制造用作无损检测的试块。现有的试块只能完成某一项指标的校核，影响了相控阵检测的校准效率。

因此，亟需设计一种相控阵检测校准试块，解决现有技术中存在的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是至少一定程度上解决现有技术中存在的部分技术问题，提供的一种相控阵检测校准试块，用于不等厚复杂铸铁件的无损检测，其结构合理，使用方便，通过一个校准试块完成校核，提高了校核效率，有利于准确高效的完成相关测试。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的一种相控阵检测校准试块，其包括主体部，所述主体部为矩形块，其顶面配置有台阶结构，相邻台阶结构的高度差相等；所述台阶结构还配置有测试孔，所述测试孔沿所述主体部的纵向设置，其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成；相邻测试孔的纵向长度不同；所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构，台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。

作为优选实施例，所述测试孔包括第一测试孔，其设置在第一台阶结构处；所述第一测试孔的纵向长度为10mm。

作为优选实施例，所述测试孔包括第二测试孔，其设置在第二台阶结构处，所述第二测试孔的纵向长度为15mm。

作为优选实施例，所述测试孔还包括第六测试孔，其贯穿设置在第六台阶结构处。

作为优选实施例，所述第一台阶结构和第二台阶结构的顶面对应的粗糙度为Ra0.8。

作为优选实施例，所述第三台阶结构和第四台阶结构的顶面对应的粗糙度为Ra1.6。

作为优选实施例，所述第五台阶结构和第六台阶结构的顶面对应的粗糙度为Ra3.2。

作为优选实施例，所述测试孔还包括第三测试孔、第四测试孔和第五测试孔，所述第三测试孔配置在第三台阶结构处，所述第四测试孔配置在第四台阶结构处，所述第五测试孔配置在第五台阶结构处。

作为优选实施例，所述第一测试孔、第二测试孔、第三测试孔、第四测试孔和第五测试孔为盲孔，其对应的直径不相等。

作为优选实施例，所述相邻台阶结构的高度差为5mm。

本实用新型有益效果：

本实用新型提供的一种相控阵检测校准试块，用于不等厚复杂铸铁件的无损检测，其结构合理，使用方便，通过一个校准试块完成校核，提高了校核效率，有利于准确高效的完成相关测试。

附图说明

通过结合以下附图所作的详细描述，本实用新型的上述优点将变得更清楚和更容易理解，这些附图只是示意性的，并不限制本实用新型，其中：