[实用新型]一种相控阵检测校准试块

权利要求书

1.一种相控阵检测校准试块，其特征在于，包括主体部，所述主体部为矩形块，其顶面配置有台阶结构，相邻台阶结构的高度差相等；所述台阶结构还配置有测试孔，所述测试孔沿所述主体部的纵向设置，其自所述主体部的一个侧面沿纵向延伸而成；相邻测试孔的纵向长度不同；所述主体部包括第一台阶结构、第二台阶结构、第三台阶结构、第四台阶结构、第五台阶结构和第六台阶结构，台阶结构对应顶面的粗糙度不大于Ra3.2。

2.根据权利要求1所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔包括第一测试孔，其设置在第一台阶结构处；所述第一测试孔的纵向长度为10mm。

3.根据权利要求2所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔包括第二测试孔，其设置在第二台阶结构处，所述第二测试孔的纵向长度为15mm。

4.根据权利要求3所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔还包括第六测试孔，其贯穿设置在第六台阶结构处。

5.根据权利要求1所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述第一台阶结构和第二台阶结构的顶面对应的粗糙度为Ra0.8。

6.根据权利要求1所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述第三台阶结构和第四台阶结构的顶面对应的粗糙度为Ra1.6。

7.根据权利要求1所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述第五台阶结构和第六台阶结构的顶面对应的粗糙度为Ra3.2。

8.根据权利要求4所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述测试孔还包括第三测试孔、第四测试孔和第五测试孔，所述第三测试孔配置在第三台阶结构处，所述第四测试孔配置在第四台阶结构处，所述第五测试孔配置在第五台阶结构处。

9.根据权利要求8所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述第一测试孔、第二测试孔、第三测试孔、第四测试孔和第五测试孔为盲孔，其对应的直径不相等。

10.根据权利要求1所述的相控阵检测校准试块，其特征在于，所述相邻台阶结构的高度差为5mm。