[实用新型]一种MOS芯片可靠度测试装置有效
| 申请号： | 202120848925.7 | 申请日： | 2021-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN215005742U | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 潘锋 | 申请（专利权）人： | 河南省申福电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 新乡市平原智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 41139 | 代理人： | 杨杰 |
| 地址： | 475000 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种MOS芯片可靠度测试装置，涉及电子元件相关技术领域。本实用新型包括测试座、配合柱、显示板和套框，测试座顶部中间纵向开设有限制槽，限制槽内限制有配合柱，测试座的一侧套接有套框，测试座远离套框的一侧固定有显示板，显示板顶部远离测试座的一侧并排固定有显示灯。本实用新型通过设置试座、配合柱、显示板和套框，解决了现有的MOS芯片可靠度测试装置无法进行很好地适应多个与多种芯片进行测试和无法简化测试流程的问题，使得多种MOS芯片测试无需多种测试平台，大大方便MOS芯片的生产，并将测试流程大大简化，大大加快MOS芯片生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mos 芯片 可靠 测试 装置 | ||
【主权项】：
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