[实用新型]一种MOS芯片可靠度测试装置

权利要求书

1.一种MOS芯片可靠度测试装置，包括测试座（100）、配合柱（200）、显示板（300）和套框（400），其特征在于：所述测试座（100）顶部中间纵向开设有限制槽（101），所述限制槽（101）内限制有配合柱（200），所述测试座（100）的一侧套接有套框（400），所述测试座（100）远离套框（400）的一侧固定有显示板（300），所述显示板（300）顶部远离测试座（100）的一侧并排固定有显示灯（305）。

2.根据权利要求1所述的一种MOS芯片可靠度测试装置，其特征在于，所述测试座（100）靠近套框（400）一侧面的中间与显示灯（305）位置对应地开设有第一线槽（102），所述测试座（100）远离第一线槽（102）的一侧面与第一线槽（102）位置对应地开设有第二线槽（103），所述第一线槽（102）和第二线槽（103）上方的测试座（100）上皆并排开设有四个测试插口（104）。

3.根据权利要求1所述的一种MOS芯片可靠度测试装置，其特征在于，所述配合柱（200）的顶部与显示灯（305）位置对应地开设有配合槽（201），所述配合柱（200）的两端皆固定有限制块（202）。

4.根据权利要求1所述的一种MOS芯片可靠度测试装置，其特征在于，所述显示板（300）的底部固定有底板（301），所述显示板（300）靠近测试座（100）的一侧面中间与显示灯（305）位置对应地开设有第一线口（302），所述显示板（300）远离第一线口（302）的一侧与第一线口（302）位置对应地开设有第二线口（303）。

5.根据权利要求4所述的一种MOS芯片可靠度测试装置，其特征在于，所述第一线口（302）内套接有第一导线（306），所述第一导线（306）远离显示板（300）的一侧皆套接在测试座（100）上与其对应的第二线槽（103）内，所述第二线口（303）内套接固定有输电线（307），所述显示灯（305）的底部两侧皆固定有灯线（304），所述灯线（304）皆套接在显示板（300）内，靠近所述测试座（100）的灯线（304）与其下方的第一导线（306）接触，远离所述测试座（100）的灯线（304）与其下方的输电线（307）接触。

6.根据权利要求1所述的一种MOS芯片可靠度测试装置，其特征在于，所述套框（400）内部远离测试座（100）的一侧套接固定有套块（401），所述套块（401）与测试座（100）上第一线槽（102）位置对应地开设有第三线口（402），所述第三线口（402）和测试座（100）上第一线槽（102）连通，且所述第三线口（402）和测试座（100）上第一线槽（102）内部共同套接有第二导线（403）。