[实用新型]一种MOS芯片可靠度测试装置

说明书

本实用新型公开了一种MOS芯片可靠度测试装置，涉及电子元件相关技术领域。本实用新型包括测试座、配合柱、显示板和套框，测试座顶部中间纵向开设有限制槽，限制槽内限制有配合柱，测试座的一侧套接有套框，测试座远离套框的一侧固定有显示板，显示板顶部远离测试座的一侧并排固定有显示灯。本实用新型通过设置试座、配合柱、显示板和套框，解决了现有的MOS芯片可靠度测试装置无法进行很好地适应多个与多种芯片进行测试和无法简化测试流程的问题，使得多种MOS芯片测试无需多种测试平台，大大方便MOS芯片的生产，并将测试流程大大简化，大大加快MOS芯片生产效率。

技术领域

本实用新型属于电子元件相关技术领域，特别是涉及一种MOS芯片可靠度测试装置。

背景技术

MOS芯片金属氧化物半导体晶体管制作出的芯片的简称，是组成各种控制电路的基本组成结构，制作完成后的MOS芯片需要进行测试才能安装到需要MOS芯片控制的电路上，保证MOS芯片可靠度，降低后续机器在使用过程中产生的故障，增加生产出的机器的品质，但它在实际使用中仍存在以下弊端：

1、现有的MOS芯片可靠度测试装置只能适用于一种芯片进行测试，无法进行很好地适应多个和多种芯片进行测试；

2、现有的MOS芯片可靠度测试装置无法直观且方便地观察芯片检测的结果，在进行检测的时候需要的技术性较强，检测流程麻烦，无法简化测试流程。

因此，现有的MOS芯片可靠度测试装置，无法满足实际使用中的需求，所以市面上迫切需要能改进的技术，以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种MOS芯片可靠度测试装置，通过设置测试座、配合柱、显示板和套框，解决了现有的MOS芯片可靠度测试装置无法进行很好地适应多个与多种芯片进行测试和无法简化测试流程的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

本实用新型为一种MOS芯片可靠度测试装置，包括测试座、配合柱、显示板和套框，所述测试座顶部中间纵向开设有限制槽，所述限制槽内限制有配合柱，所述测试座的一侧套接有套框，所述测试座远离套框的一侧固定有显示板，所述显示板顶部远离测试座的一侧并排固定有显示灯，本实用新型通过测试座在显示板和套框中的结构连接的电力结构的作用下对需要测试的芯片进行测试，通过配合柱将需要测试的芯片限制在测试座上方，并通过显示板上的显示灯显示芯片的测试结果。

进一步地，所述测试座靠近套框一侧面的中间与显示灯位置对应地开设有第一线槽，所述测试座远离第一线槽的一侧面与第一线槽位置对应地开设有第二线槽，所述第一线槽和第二线槽上方的测试座上皆并排开设有四个测试插口，测试座通过测试插口将芯片的针脚插接在第一线槽内插接的第二导线和第二线槽内插接的第一导线上，为芯片通电。

进一步地，所述配合柱的顶部与显示灯位置对应地开设有配合槽，所述配合柱的两端皆固定有限制块，配合柱通过限制块将配合柱和测试座的位置进行确定，并在其上的配合槽的限制在将芯片限制在测试座顶部。

进一步地，所述显示板的底部固定有底板，所述显示板靠近测试座的一侧面中间与显示灯位置对应地开设有第一线口，所述显示板远离第一线口的一侧与第一线口位置对应地开设有第二线口，显示板通过其上开设的第一线口内插接的第一导线和第二线口内插接固定的输电线将电力输送到测试板上。

进一步地，所述第一线口内套接有第一导线，所述第一导线远离显示板的一侧皆套接在测试座上与其对应的第二线槽内，所述第二线口内套接固定有输电线，所述显示灯的底部两侧皆固定有灯线，所述灯线皆套接在显示板内，靠近所述测试座的灯线与其下方的第一导线接触，远离所述测试座的灯线与其下方的输电线接触，第一线口通过第一导线插接在测试座内，为测试座进行供电，通过输电线将电力输送到本实用新型上，显示灯通过其上固定的灯线和输电线与第一导线进行接触，在测试芯片的时候为显示灯供电。