[实用新型]一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统有效
申请号: | 202120732279.8 | 申请日: | 2021-04-12 |
公开(公告)号: | CN215177601U | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 谢亚宁 | 申请(专利权)人: | 天津敬慎坊科技有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02;H05K7/20 |
代理公司: | 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 | 代理人: | 张铁兰 |
地址: | 301700 天津市武清区天津市武*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,包括探测装置防护壳体,以及对应安装在探测装置防护壳体内部的探测装置内支架,还包括散热装置,所述探测装置内支架的外侧对应与探测装置防护壳体的贴合面位置处安装有散热装置,其中所述散热装置包括固定安装在探测装置内支架外侧的导热连接架;通过设计安装在探测装置内支架外侧的散热装置,实现了对厚度探测系统主体上电源线安装位置的散热处理,极大的增加了装置的功能性,避免了电源位置处散热性能较差,安全性能较低的情况,且利用设计在第一导热连接板和第二导热连接板安装位置处的插块的插槽,极大的便捷了对导热机构的安装。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 生产流程 射线 材料 厚度 探测 系统 | ||
【主权项】:
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