[实用新型]一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统有效

专利信息
申请号: 202120732279.8 申请日: 2021-04-12
公开(公告)号: CN215177601U 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 谢亚宁 申请(专利权)人: 天津敬慎坊科技有限公司
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02;H05K7/20
代理公司: 北京劲创知识产权代理事务所(普通合伙) 11589 代理人: 张铁兰
地址: 301700 天津市武清区天津市武*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 生产流程 射线 材料 厚度 探测 系统
【权利要求书】:

1.一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,包括探测装置防护壳体(1),以及对应安装在探测装置防护壳体(1)内部的探测装置内支架(2),其特征在于:还包括散热装置,所述探测装置内支架(2)的外侧对应与探测装置防护壳体(1)的贴合面位置处安装有散热装置,其中所述散热装置包括固定安装在探测装置内支架(2)外侧的导热连接架(3),其中所述导热连接架(3)的内侧壁上环形分布有蓄冷环管(6),且所述导热连接架(3)上对应蓄冷环管(6)外侧的位置处固定安装有导热机构,且所述导热机构包括第一导热侧板(8)、第二导热侧板(9)、第一导热连接板(10)和第二导热连接板(11),其中所述第一导热连接板(10)的一侧固定安装有插块(12),且所述第二导热连接板(11)上配合开设有供插块(12)插设的插槽(13),且所述第一导热连接板(10)的两端通过卡扣组件(14)对称安装有两个第一导热侧板(8),且所述第二导热连接板(11)的两端通过另一组卡扣组件(14)对称安装有两个第二导热侧板(9)。

2.根据权利要求1所述的一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,其特征在于:所述探测装置内支架(2)上对应靠近导热连接架(3)的一端固定安装有电源线(4),且所述探测装置内支架(2)的另一端固定安装有探测头(5),且多个所述探测头(5)固定安装在框架(16)的内顶部位置处,且所述框架(16)上对应探测头(5)的正下方位置处滑动安装有X光管(17)。

3.根据权利要求1所述的一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,其特征在于:所述卡扣组件(14)包括凸起和凹槽,且所述凸起为圆柱形结构,且所述凹槽与凸起配合使用。

4.根据权利要求1所述的一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,其特征在于:所述导热机构的外侧等距开设有多个导热孔(15)。

5.根据权利要求1所述的一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,其特征在于:所述导热连接架(3)的侧壁通过螺钉固定安装有防护扣件(7),且所述蓄冷环管(6)扣合设置在防护扣件(7)的外侧。

6.根据权利要求1所述的一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统,其特征在于:所述第一导热连接板(10)和插块(12)为一体式结构。

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