[实用新型]一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统

说明书

本实用新型公开了一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统，包括探测装置防护壳体，以及对应安装在探测装置防护壳体内部的探测装置内支架，还包括散热装置，所述探测装置内支架的外侧对应与探测装置防护壳体的贴合面位置处安装有散热装置，其中所述散热装置包括固定安装在探测装置内支架外侧的导热连接架；通过设计安装在探测装置内支架外侧的散热装置，实现了对厚度探测系统主体上电源线安装位置的散热处理，极大的增加了装置的功能性，避免了电源位置处散热性能较差，安全性能较低的情况，且利用设计在第一导热连接板和第二导热连接板安装位置处的插块的插槽，极大的便捷了对导热机构的安装。

技术领域

本实用新型属于厚度探测技术领域，具体涉及一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统。

背景技术

X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态测量设备。通过机械扫描，计算机数据分析等手段获得物料的二维厚度分布信息，现有生产线的X射线材料厚度探测系统多是建立于生产线上，其中X射线管及电离室分别置于带状材料的上下两侧，X 射线管产生的X射线穿过带状材料后被电离室探测器接收，产生的电信号经配套电子学处理后即获得了该点材料厚度相关的信息。当带状产品向前运动，X射线管及电离室固定于衍架做同步横向运动而形成二维扫描，最终获得了该材料厚度的全面信息。

现有的应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统在使用时，其探测装置的壳体之间多是密闭结构，其散热结构多是通过金属外壁的直接导热，此类散热机构功能较为单一，且针对用电点位置处，不具备单独的散热机构，从而极大的降低了装置的安全性，为此我们提出一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统，以解决上述背景技术中提出的现有应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统在使用时，不便对探测装置内侧进行辅助散热的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种应用于生产流程的X射线材料厚度探测系统，包括探测装置防护壳体，以及对应安装在探测装置防护壳体内部的探测装置内支架，还包括散热装置，所述探测装置内支架的外侧对应与探测装置防护壳体的贴合面位置处安装有散热装置，其中所述散热装置包括固定安装在探测装置内支架外侧的导热连接架，其中所述导热连接架的内侧壁上环形分布有蓄冷环管，且所述导热连接架上对应蓄冷环管外侧的位置处固定安装有导热机构，且所述导热机构包括第一导热侧板、第二导热侧板、第一导热连接板和第二导热连接板，其中所述第一导热连接板的一侧固定安装有插块，且所述第二导热连接板上配合开设有供插块插设的插槽，且所述第一导热连接板的两端通过卡扣组件对称安装有两个第一导热侧板，且所述第二导热连接板的两端通过另一组卡扣组件对称安装有两个第二导热侧板，所述探测装置内支架上对应靠近导热连接架的一端固定安装有电源线，且所述探测装置内支架的另一端固定安装有探测头，所述卡扣组件包括凸起和凹槽，且所述凸起为圆柱形结构，且所述凹槽与凸起配合使用，所述导热机构的外侧等距开设有多个导热孔，所述导热连接架的侧壁通过螺钉固定安装有防护扣件，且所述蓄冷环管扣合设置在防护扣件的外侧，所述第一导热连接板和插块为一体式结构。

相比于现有技术，本实用新型的有益效果在于：

通过方案提出的采用半导体探测器替代了传统的电离室探测器，其探测强度及灵敏度比电离室高一个量级，同时适用的X射线能量范围远大于电离室，且探测器内置的弱电流放大器，根据生产的材料优化配置弱电流放大器的放大倍数及通频带从而使探测部分工作在最佳状态，同时方案中还提出了多点扫描的方案使得扫描速度提高N 倍。

通过设计安装在探测装置内支架外侧的散热装置，实现了对厚度探测系统主体上电源线安装位置的散热处理，极大的增加了装置的功能性，避免了电源位置处散热性能较差，安全性能较低的情况，且利用设计在第一导热连接板和第二导热连接板安装位置处的插块的插槽，极大的便捷了对导热机构的安装。

附图说明