[实用新型]一种高稳定性芯片测试座

摘要

本实用新型公开了一种高稳定性芯片测试座，包括壳体，所述壳体的顶面设有盖体，所述壳体和盖体通过连接机构进行连接，所述连接机构包括直角板、转动块和支撑块，所述壳体的右侧壁顶端中心部位上设有连接块，所述盖体的左侧壁中心部位上设有固定块，所述壳体的内部设有测试座，所述测试座的两侧设有对称的安装块。本实用新型所述的一种高稳定性芯片测试座，属于测试座领域，通过设置的壳体、盖体和连接机构的配合使用，用于对测试座进行防护，避免灰尘落入到测试座中对芯片的检测稳定性造成影响，且紧压块用于将芯片抵压在检测座的检测槽中，增加芯片与检测座之间的紧密性，并提高其检测稳定性。