[实用新型]一种高稳定性芯片测试座

权利要求书

1.一种高稳定性芯片测试座，其特征在于：包括壳体(1)，所述壳体(1)的顶面设有盖体(2)，所述壳体(1)和盖体(2)通过连接机构(3)进行连接，所述连接机构(3)包括直角板(17)、转动块(18)和支撑块(19)，所述壳体(1)的右侧壁顶端中心部位上设有连接块(6)，所述盖体(2)的左侧壁中心部位上设有固定块(7)，所述壳体(1)的内部设有测试座(4)，所述测试座(4)的两侧设有对称的安装块(5)，所述盖体(2)的内侧壁上设有紧压块(8)和密封块(9)，所述紧压块(8)位于密封块(9)之间。

2.根据权利要求1所述的一种高稳定性芯片测试座，其特征在于：所述壳体(1)的左侧外壁顶端部位固定安装有对称的支撑块(19)，所述支撑块(19)的侧壁上开设有贯通的转动槽(20)，所述直角板(17)固定安装在盖体(2)的右侧壁上，所述直角板(17)的底端两侧固定安装有转动块(18)，所述转动块(18)分别活动安装在转动槽(20)中。

3.根据权利要求1所述的一种高稳定性芯片测试座，其特征在于：所述壳体(1)的顶面壁上开设有密封槽(10)，所述密封槽(10)的槽内固定安装有密封圈(11)，所述盖体(2)的内侧壁上固定安装有密封块(9)，所述密封块(9)位于密封槽(10)中，所述盖体(2)的内侧壁上固定安装有紧压块(8)，所述紧压块(8)位于密封块(9)之间。

4.根据权利要求1所述的一种高稳定性芯片测试座，其特征在于：所述安装块(5)固定安装在测试座(4)的两侧侧壁上，所述安装块(5)的顶面开设有贯通的安装孔(21)，所述壳体(1)的内部底面四个角端部位固定安装有定位块(22)，所述定位块(22)位于安装孔(21)中。

5.根据权利要求1所述的一种高稳定性芯片测试座，其特征在于：所述固定块(7)固定安装在盖体(2)的左侧壁中心部位上，所述固定块(7)的前端开设有凹槽(15)，所述凹槽(15)的槽壁两侧开设有卡槽(16)。

6.根据权利要求1所述的一种高稳定性芯片测试座，其特征在于：所述连接块(6)固定安装在壳体(1)的左侧壁顶端中心部位上，所述连接块(6)的两端开设有弹簧槽(12)，所述弹簧槽(12)的槽底固定安装有压缩弹簧(13)，所述压缩弹簧(13)的前端固定安装有卡块(14)。