[实用新型]一种高稳定性芯片测试座

说明书

本实用新型公开了一种高稳定性芯片测试座，包括壳体，所述壳体的顶面设有盖体，所述壳体和盖体通过连接机构进行连接，所述连接机构包括直角板、转动块和支撑块，所述壳体的右侧壁顶端中心部位上设有连接块，所述盖体的左侧壁中心部位上设有固定块，所述壳体的内部设有测试座，所述测试座的两侧设有对称的安装块。本实用新型所述的一种高稳定性芯片测试座，属于测试座领域，通过设置的壳体、盖体和连接机构的配合使用，用于对测试座进行防护，避免灰尘落入到测试座中对芯片的检测稳定性造成影响，且紧压块用于将芯片抵压在检测座的检测槽中，增加芯片与检测座之间的紧密性，并提高其检测稳定性。

技术领域

本实用新型涉及测试座领域，特别涉及一种高稳定性芯片测试座。

背景技术

在半导体芯片的研发及大规模生产过程中，均需要对芯片的各类性能进行测试，芯片测试座是测试装置中的关键部件。测试座的功能是将芯片定位夹持及线路板之间电子讯号及电流的传输，它的功能优劣直接影响芯片测试的可靠性和准确。但是现有的芯片测试座无论是在使用时或不使用时，测试座都长时间暴露在空气中，空气中的灰尘容易进入到测试座中，对测试座造作一定的影响，进而在芯片检测时会使得检测稳定性不佳，导致进行结果出现偏差，与此同时，现有的芯片测试座在对芯片检测时，它们之间的紧密性较差，易影响芯片的检测稳定性。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种高稳定性芯片测试座，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种高稳定性芯片测试座，包括壳体，所述壳体的顶面设有盖体，所述壳体和盖体通过连接机构进行连接，所述连接机构包括直角板、转动块和支撑块，所述壳体的右侧壁顶端中心部位上设有连接块，所述盖体的左侧壁中心部位上设有固定块，所述壳体的内部设有测试座，所述测试座的两侧设有对称的安装块，所述盖体的内侧壁上设有紧压块和密封块，所述紧压块位于密封块之间。

优选的，所述壳体的左侧外壁顶端部位固定安装有对称的支撑块，所述支撑块的侧壁上开设有贯通的转动槽，所述直角板固定安装在盖体的右侧壁上，所述直角板的底端两侧固定安装有转动块，所述转动块分别活动安装在转动槽中，其用途在于，使盖体在壳体上实现开合闭合操作。

优选的，所述壳体的顶面壁上开设有密封槽，所述密封槽的槽内固定安装有密封圈，所述盖体的内侧壁上固定安装有密封块，所述密封块位于密封槽中，所述盖体的内侧壁上固定安装有紧压块，所述紧压块位于密封块之间，其用途在于，对测试座进行防护，避免灰尘落入测试座中对芯片的检测稳定性造成影响。

优选的，所述安装块固定安装在测试座的两侧侧壁上，所述安装块的顶面开设有贯通的安装孔，所述壳体的内部底面四个角端部位固定安装有定位块，所述定位块位于安装孔中，其用途在于，实现测试座的快速定位安装。

优选的，所述固定块固定安装在盖体的左侧壁中心部位上，所述固定块的前端开设有凹槽，所述凹槽的槽壁两侧开设有卡槽，其用途在于，配合连接块的使用。

优选的，所述连接块固定安装在壳体的左侧壁顶端中心部位上，所述连接块的两端开设有弹簧槽，所述弹簧槽的槽底固定安装有压缩弹簧，所述压缩弹簧的前端固定安装有卡块，其用途在于，将盖体固定在壳体上。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型中，通过设置的壳体、盖体和连接机构的配合使用，用于对测试座进行防护，避免灰尘落入到测试座中对芯片的检测稳定性造成影响，且紧压块用于将芯片抵压在检测座的检测槽中，增加芯片与检测座之间的紧密性，并提高其检测稳定性，设置的连接块与固定块的配合使用，用于将盖体固定在壳体上。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构平面俯视示意图；

图2为本实用新型的整体结构平面侧视示意图；