[实用新型]一种用于集成电路寿命测试的试验箱有效
| 申请号: | 202120246025.5 | 申请日: | 2021-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN214622922U | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
| 发明(设计)人: | 魏惠枚 | 申请(专利权)人: | 广东信可达工业科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 广东中衢知识产权代理事务所(普通合伙) 44755 | 代理人: | 杨小鑫 |
| 地址: | 519000 广东省珠海市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本实用新型涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种用于集成电路寿命测试的试验箱,包括主体机构,所述主体机构包括试验箱体,所述试验箱体的一侧设置有控制器,所述试验箱体的一侧靠近控制器的一侧设置有箱体连接口,所述箱体连接口的输出端连接有电路连接口,所述试验箱体一侧的底端固定连接有防护结构,所述防护结构包括底板,所述试验箱体一侧的底端固定连接有底板。有益效果是:通过设置有连接机构,使集成电路寿命测试试验箱对集成电路进行测试时,从而避免了试验箱连接口松动的现象发生,进而保证了试验箱的正常使用,避免了试验箱损坏浪费的现象。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 集成电路 寿命 测试 试验 | ||
【主权项】:
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