[实用新型]一种用于集成电路寿命测试的试验箱

权利要求书

1.一种用于集成电路寿命测试的试验箱，包括主体机构，其特征在于，所述主体机构包括试验箱体，所述试验箱体的一侧设置有控制器，所述试验箱体的一侧靠近控制器的一侧设置有箱体连接口，所述箱体连接口的输出端连接有电路连接口，所述试验箱体一侧的底端固定连接有防护结构，所述防护结构包括底板，所述试验箱体一侧的底端固定连接有底板，所述底板的两端固定连接有侧板，所述侧板的一端插设连接控制杆，所述控制杆的一端固定连接有限位块，所述侧板的一侧插设连接有连接杆，所述连接杆的一端固定连接有密封盖，所述密封盖的一侧固定连接有把手，所述密封盖的另一侧固定连接有顶板，所述密封盖的底端固定连接有卡板，所述试验箱体的一侧固定连接有连接机构，所述连接机构包括固定板，所述试验箱体的一侧固定连接有固定板，所述固定板的内侧固定连接有连接板，所述连接板的内侧插设连接有铰接杆，所述铰接杆的一端铰接有控制环，所述铰接杆的另一端固定连接有压板，所述控制环的两侧固定连接有推板，所述试验箱体的一侧固定连接有第一连接块，所述第一连接块的一侧固定连接有伸缩簧，所述伸缩簧的一侧固定连接有第二连接块。

2.根据权利要求1所述的用于集成电路寿命测试的试验箱，其特征在于，所述电路连接口的外侧外壁连接有一环形限位板，所述电路连接口外侧设置的环形限位板远离箱体连接口的一侧与压板抵合连接。

3.根据权利要求1所述的用于集成电路寿命测试的试验箱，其特征在于，所述底板的顶端开设有一槽，所述底板顶端开设的槽体顶端与卡板的底端插设连接。

4.根据权利要求1所述的用于集成电路寿命测试的试验箱，其特征在于，所述侧板设置为两组，两组所述侧板的一端分别与试验箱体一侧的两端固定连接，所述侧板的一侧开设有一组长形滑槽，所述侧板一侧开设的滑槽内侧与连接杆的外壁活动连接。

5.根据权利要求1所述的用于集成电路寿命测试的试验箱，其特征在于，所述连接板的内侧开设有一组圆形孔槽，所述连接板内侧开设的圆形孔槽内侧与铰接杆的外壁活动连接。

6.根据权利要求1所述的用于集成电路寿命测试的试验箱，其特征在于，所述第二连接块设置为两组，两组所述第二连接块远离伸缩簧的一侧与铰接杆的两侧固定连接。