[实用新型]一种用于集成电路寿命测试的试验箱

说明书

本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种用于集成电路寿命测试的试验箱，包括主体机构，所述主体机构包括试验箱体，所述试验箱体的一侧设置有控制器，所述试验箱体的一侧靠近控制器的一侧设置有箱体连接口，所述箱体连接口的输出端连接有电路连接口，所述试验箱体一侧的底端固定连接有防护结构，所述防护结构包括底板，所述试验箱体一侧的底端固定连接有底板。有益效果是：通过设置有连接机构，使集成电路寿命测试试验箱对集成电路进行测试时，从而避免了试验箱连接口松动的现象发生，进而保证了试验箱的正常使用，避免了试验箱损坏浪费的现象。

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种用于集成电路寿命测试的试验箱。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

集成电路寿命测试的实验箱就是通过测试对比在同样的工作条件下，通过测试箱体对集成电路的各种功能进行检测，通过测试结构从而核算出集成电路的寿命，而集成电路寿命测试的试验箱在测试过程中，需要更换不同的集成电路进而测试不同的集成电路的寿命，每测试一个集成电路就需要拨出上一个集成电路进而插入下一个集成电路进而测试，需要不断的插入与拔出，使得试验箱的连接口易松动损坏，从而导致其连接口无法正常使用的现象，从而造成资源的浪费。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种用于集成电路寿命测试的试验箱，用以解决现有技术中试验箱连接口处易松动从而导致连接正常使用的问题。

为解决上述问题，本实用新型提供了：一种用于集成电路寿命测试的试验箱，包括主体机构，所述主体机构包括试验箱体，所述试验箱体的一侧设置有控制器，所述试验箱体的一侧靠近控制器的一侧设置有箱体连接口，所述箱体连接口的输出端连接有电路连接口，所述试验箱体一侧的底端固定连接有防护结构，所述防护结构包括底板，所述试验箱体一侧的底端固定连接有底板，所述底板的两端固定连接有侧板，所述侧板的一端插设连接控制杆，所述控制杆的一端固定连接有限位块，所述侧板的一侧插设连接有连接杆，所述连接杆的一端固定连接有密封盖，所述密封盖的一侧固定连接有把手，所述密封盖的另一侧固定连接有顶板，所述密封盖的底端固定连接有卡板，所述试验箱体的一侧固定连接有连接机构，所述连接机构包括固定板，所述试验箱体的一侧固定连接有固定板，所述固定板的内侧固定连接有连接板，所述连接板的内侧插设连接有铰接杆，所述铰接杆的一端铰接有控制环，所述铰接杆的另一端固定连接有压板，所述控制环的两侧固定连接有推板，所述试验箱体的一侧固定连接有第一连接块，所述第一连接块的一侧固定连接有伸缩簧，所述伸缩簧的一侧固定连接有第二连接块。

该集成电路寿命测试的试验箱通过设置有连接机构，使集成电路寿命测试试验箱对集成电路进行测试时，连接口连接更加的牢固，当需要更换集成电路时，插入与拔出集成电路时不会损坏试验箱的连接口，从而避免了试验箱连接口松动的现象发生，进而大大的降低了连接口的损坏现象，进而保证了试验箱的正常使用，避免了试验箱损坏浪费的现象。

该集成电路寿命测试的试验箱通过设置有防护结构，使集成电路寿命测试的试验箱对集成电路进而测试时可以展开密封盖，从而通过控制杆与限位块固定连接杆与密封盖的位置，集成电路寿命测试的实验箱对集成电路测试完毕后，通过控制把手可以使密封盖关闭，进而使防护结构可以保证试验箱体正常实验工作的同时，使其连接口不易沾染灰尘，从而保证了试验箱连接口的干净不易被损坏的同时保证了试验箱体的正常工作，且操作方便省时省力。

在其中一个实施例中，所述电路连接口的外侧外壁连接有一环形限位板，所述电路连接口外侧设置的环形限位板远离箱体连接口的一侧与压板抵合连接。

在其中一个实施例中，所述底板的顶端开设有一槽，所述底板顶端开设的槽体顶端与卡板的底端插设连接。