[实用新型]一种靶材环件校正装置有效

专利信息
申请号: 202120118052.4 申请日: 2021-01-15
公开(公告)号: CN214442035U 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 姚力军;边逸军;潘杰;王学泽;冯周瑜;罗明浩;张林桥 申请(专利权)人: 宁波江丰电子材料股份有限公司
主分类号: B21D3/16 分类号: B21D3/16;B21D43/00;B21D53/16;C23C14/34
代理公司: 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 代理人: 王岩
地址: 315400 浙江省宁波市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型提供了一种靶材环件校正装置,所述校正装置包括校正基座、校正夹具和施压组件,所述校正夹具竖直放置于校正基座上;待校正靶材环件由第一固定组件固定于校正夹具的一侧表面,所述靶材环件和校正夹具的中心轴重合,所述靶材环件外壁上设有凸起;所述施压组件位于靶材环件外侧,与靶材环件上的凸起接触,所述施压组件的一端与校正夹具连接。本实用新型通过校正装置的结构设计,尤其是固定组件的设置,能够对变形靶材环件中的不同位置进行快速校正,避免再利用时造成安装困难和使用异常的问题,便于靶材环件的再利用,校正效果好;所述装置结构简单,组装方便,适合于不同种类的靶材环件的校正,能够有效降低半导体产品制备的成本。
搜索关键词: 一种 靶材环件 校正 装置
【主权项】:
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