[发明专利]多光谱辐射温度计测量数据处理方法在审

专利信息
申请号: 202111662252.7 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114329990A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 于天河;戴景民 申请(专利权)人: 天合(无锡)仪器有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/10;G01J5/00
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 杨晓辉
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 多光谱辐射温度计测量数据处理方法,解决了现有多光谱辐射温度计的数据处理方法只对少数材料适合的问题,属于光谱数据处理技术领域。本发明的一种多光谱辐射温度计测量数据处理方法,所述方法包括:S1、获取多光谱辐射温度计的测量数据xk和对应的真实温度yk;S2、根据xk,yk用y=a0+a1x+…+amxm拟合,获得残余误差平方和Q;S3、去掉第m次项,用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1进行拟合,获得残余误差平方和Q′;S4、根据Q和Q′,获取方差比Fm,判断Fm是否大于临界值Fα,若是,m=m+1,转入S2,否则,根据当前m的取值,采用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1作为多光谱辐射温度计的测量数据的拟合曲线模型。
搜索关键词: 光谱 辐射 温度计 测量 数据处理 方法
【主权项】:
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