[发明专利]多光谱辐射温度计测量数据处理方法在审

专利信息
申请号: 202111662252.7 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114329990A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 于天河;戴景民 申请(专利权)人: 天合(无锡)仪器有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/10;G01J5/00
代理公司: 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 代理人: 杨晓辉
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光谱 辐射 温度计 测量 数据处理 方法
【权利要求书】:

1.多光谱辐射温度计测量数据处理方法,其特征在于,所述方法包括:

S1、获取多光谱辐射温度计的测量数据xk和对应的真实温度yk,k=1,…,n,n表示多光谱辐射温度计的测量数据的数量;

S2、根据xk,yk用y=a0+a1x+…+amxm拟合,a0,a1,…am为拟合中的系数,获得残余误差方程,进行等效,得到组成方程组:

其中,为a0,a1,…am的拟合值,m的初始值为2,表示n个yk的平均值,表示n个xk的平均值,vk表示正则化项,i∈(2,…,m),j∈(2,…,m),Q表示残余误差平方和,

S3、去掉第m次项amxm,用y=a0+a1x+…+am-1xm-1采集S2的方式进行拟合,获得残余误差平方和Q′,

S4、根据Q和Q′,获取方差比判断Fm是否大于临界值Fα,若是,m=m+1,转入S2,否则,根据当前m的取值,采用y=a0+a1x+…+am-1xm-1作为多光谱辐射温度计的测量数据的拟合曲线模型。

2.根据权利要求1所述的多光谱辐射温度计测量数据处理方法,其特征在于,所述临界值Fα遵从自由度为1和n-m-1的F分布,是由统计表查出F分布的理论临界值。

3.根据权利要求1所述的多光谱辐射温度计测量数据处理方法,其特征在于,S2中,残余误差方程为:

4.根据权利要求1所述的多光谱辐射温度计测量数据处理方法,其特征在于,S2中,

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