[发明专利]多光谱辐射温度计测量数据处理方法

说明书

多光谱辐射温度计测量数据处理方法，解决了现有多光谱辐射温度计的数据处理方法只对少数材料适合的问题，属于光谱数据处理技术领域。本发明的一种多光谱辐射温度计测量数据处理方法，所述方法包括：S1、获取多光谱辐射温度计的测量数据x_k和对应的真实温度y_k；S2、根据x_k，y_k用y＝a₀+a₁x+…+a_mx^m拟合，获得残余误差平方和Q；S3、去掉第m次项，用y＝a₀+a₁x+…+a_m‑1x^m‑1进行拟合，获得残余误差平方和Q′；S4、根据Q和Q′，获取方差比F_m，判断F_m是否大于临界值F_α，若是，m＝m+1，转入S2，否则，根据当前m的取值，采用y＝a₀+a₁x+…+a_m‑1x^m‑1作为多光谱辐射温度计的测量数据的拟合曲线模型。

技术领域

本发明涉及一种多光谱辐射测量数据处理方法，属于光谱数据处理技术领域。

背景技术

对于多光谱辐射温度计的数据处理，均使用最小二乘法，这必须要假设发射率与波长的函数关系，否则无法求解。当假设模型与实际情况相符时，通过计算得到的物体真实温度和材料发射率会与实际情况符合得很好；当二者不一致时，通过计算得到的物体真实温度和材料发射率会与实际情况差别甚大。现有多光谱算法都是假定发射率ε和波长x的关系:lnε＝a+bx或lnε＝a₀+a₁x+…+a_nxⁿ，这两种假定关系只对少数材料适合，可以解算真实温度，具有较高的精度，而不适用其他材料。

发明内容

针对现有多光谱辐射温度计的数据处理方法只对少数材料适合的问题，本发明提供一种适用大多数材料的多光谱辐射温度计测量数据处理方法。

本发明的一种多光谱辐射温度计测量数据处理方法，所述方法包括：

S1、获取多光谱辐射温度计的测量数据x_k和对应的真实温度y_k，k＝1,…,n，n表示多光谱辐射温度计的测量数据的数量；

S2、根据x_k,y_k用y＝a₀+a₁x+…+a_mx^m拟合，a₀,a₁,…a_m为拟合中的系数，获得残余误差方程，进行等效，得到组成方程组：

……

其中，为a₀,a₁,…a_m的拟合值，m的初始值为2，表示n个y_k的平均值，表示n个x_k的平均值，v_k表示正则化项，i∈(2,…,m)，j∈(2,…,m)，Q表示残余误差平方和，

S3、去掉第m次项a_mx^m，用y＝a₀+a₁x+…+a_m-1x^m-1采集S2的方式进行拟合，获得残余误差平方和Q′，