[发明专利]一种芯片测试方法以及芯片测试系统

摘要

本申请公开了一种芯片测试方法以及芯片测试系统，该芯片测试方法包括：利用芯片测试系统中的机械手对至少一个待测试芯片进行测试；其中，机械手包括第一测试站和第二测试站；响应于待测试芯片到达第二测试站，调取第一测试站对待测试芯片测试得到的第一结果，并获得第二测试站对待测试芯片测试得到的第二结果；将第一结果和第二结果进行关联运算以获得待测试芯片的测试结果。通过这种设计方式，可以通过测试站点之间直接进行跨站取值，实现同一颗芯片参数性能实时比较，直接在数据中显示出计算结果，不仅可以避免后期进行手动数据分析，而且可以直接筛选出电性能参数不稳定的潜在风险产品，从而降低产品质量风险。