[发明专利]一种光模块老化测试方法及系统在审
| 申请号： | 202111605511.2 | 申请日： | 2021-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN114301522A | 公开（公告）日： | 2022-04-08 |
| 发明（设计）人： | 薄生伟 | 申请（专利权）人： | 长飞光纤光缆股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;G01K13/00 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 雷霄 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光模块老化测试方法及系统，所述光模块包括光发射端口、光接收端口和监控模块，所述监控模块用于根据所述光接收端口接收到的信号生成监测值，所述方法包括步骤：将所述光发射端口和所述光接收端口通过光纤连接；读取所述监控模块在老化前和老化后的监测值，根据老化前和老化后的监测值变化输出老化测试结果；另外本发明还可以根据偏置电流与温度的映射表来调节光模块偏置电流。本发明降低了老化不良误判率，提高了老化测试效率，降低了老化测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模块 老化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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