[发明专利]一种光模块老化测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111605511.2 申请日: 2021-12-25
公开(公告)号: CN114301522A 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 薄生伟 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: H04B10/079 分类号: H04B10/079;G01K13/00
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 雷霄
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 模块 老化 测试 方法 系统
【说明书】:

发明公开了一种光模块老化测试方法及系统,所述光模块包括光发射端口、光接收端口和监控模块,所述监控模块用于根据所述光接收端口接收到的信号生成监测值,所述方法包括步骤:将所述光发射端口和所述光接收端口通过光纤连接;读取所述监控模块在老化前和老化后的监测值,根据老化前和老化后的监测值变化输出老化测试结果;另外本发明还可以根据偏置电流与温度的映射表来调节光模块偏置电流。本发明降低了老化不良误判率,提高了老化测试效率,降低了老化测试成本。

技术领域

本发明属于光通信技术领域,更具体地,涉及一种光模块老化测试方法及系统。

背景技术

光模块主要用于光信号的收发,是光纤通信系统中的核心器件。光模块老化工序是生产过程中的重要工序,其主要目的是通过老化工序筛选出可靠性薄弱的激光器,避免发货到客户端的光模块出现早期失效,从而保证光通信网络平稳运行。

当前老化工序需要经过老化前测试、在老化环境试验箱中老化、老化后测试以及判断是否合格等主要步骤。如图1所示,具体包括:(1)首先进行老化前测试,将光模块插入测试板,通过光纤连接至光功率计,记录光功率值P0;(2)将光模块插入老化环境试验箱中的老化板进行带电老化;(3)将光模块取出,进行老化后测试,测试方法与老化前测试相同,记录光功率值P1,通过判断光功率变化值,得出光模块是否正常。

因老化测试时光模块设置的偏置电流和老化过程中设置的偏置电流不同,通常需要通过在测试过程中设置光模块偏置电流,如光模块默认偏置电流为a,此偏置电流为常温测试时光模块工作电流,老化前后偏置电流应保持一致,以便做光功率对比。老化时温度较高,通常在100度甚至更高,此时需要通过测试软件更新偏置电流为b;而老化结束后进行老化测试时又要将偏置电流配置为a。此种方法存在以下不足:(1)在老化前、后测试中至少需要经过两次插拔光纤,每次插拔光纤会带来测试误差;(2)该过程需要多次调节偏置电流、增加了生产测试软件的复杂度,容易产生混淆;(3)对于同一个光模块,老化前、后测试的机台通常不是同一台测试系统,而系统之间有固定的测试偏差,包括由光纤自身损耗和光功率计带来的偏差。上述不足可能会导致一定比例的合格光模块被误判为不良,以至于增加了制造成本。

发明内容

针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本发明提供了一种光模块老化测试方法及系统,提高了老化测试效率,降低了老化测试成本。

为实现上述目的,按照本发明的第一方面,提供了一种光模块老化测试方法,所述光模块包括光发射端口、光接收端口和监控模块,所述监控模块用于根据所述光接收端口接收到的信号生成监测值,所述方法包括步骤:

将所述光发射端口和所述光接收端口通过光纤连接;

读取所述监控模块在老化前和老化后的监测值,根据老化前和老化后的监测值变化输出老化测试结果。

进一步地,光模块老化测试方法,还包括步骤:

存储光模块偏置电流与温度的映射表,所述映射表中至少包括第一温度和第二温度,第一温度对应的偏置电流值为第一值,第二温度对应的偏置电流值为第二值;

老化前将所述光模块置于第一温度,并根据所述映射表将所述光模块的偏置电流值调至第一值,老化测试过程中将所述光模块置于第二温度,并根据所述映射表将所述光模块的偏置电流值调至第二值,老化结束后将所述光模块置于第一温度,并根据所述映射表将所述光模块的偏置电流值恢复至第一值。

进一步地,将所述映射表固化在所述光模块中,所述光模块根据所述映射表自动调节其偏置电流值。

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