[发明专利]一种光模块老化测试方法及系统

权利要求书

1.一种光模块老化测试方法，其特征在于，所述光模块包括光发射端口、光接收端口和监控模块，所述监控模块用于根据所述光接收端口接收到的信号生成监测值，所述方法包括步骤：

将所述光发射端口和所述光接收端口通过光纤连接；

读取所述监控模块在老化前和老化后的监测值，根据老化前和老化后的监测值变化输出老化测试结果。

2.如权利要求1所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，还包括步骤：

存储光模块偏置电流与温度的映射表，所述映射表中至少包括第一温度和第二温度，第一温度对应的偏置电流值为第一值，第二温度对应的偏置电流值为第二值；

老化前将所述光模块置于第一温度，并根据所述映射表将所述光模块的偏置电流值调至第一值，老化测试过程中将所述光模块置于第二温度，并根据所述映射表将所述光模块的偏置电流值调至第二值，老化结束后将所述光模块置于第一温度，并根据所述映射表将所述光模块的偏置电流值恢复至第一值。

3.如权利要求2所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，将所述映射表固化在所述光模块中，所述光模块根据所述映射表自动调节其偏置电流值。

4.如权利要求2所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，将所述第一温度记为T1，将所述第二温度记为T2，所述第一值记为a，所述第二值记为b，所述映射表包括第一温度区间、第二温度区间和第三温度区间，所述第一温度区间范围为(T1-σ1，T1+σ2),所述第二温度区间为(T2-σ3，T2+σ4)，所述第三温度区间为[T1+σ2,T2-σ3],σ1、σ2、σ3、σ4为预设阈值，所述第一温度区间对应的偏置电流值为所述第一值，所述第二温度区间对应的偏置电流值为所述第二值，所述第三温度区间对应的偏置电流值为变化值。

5.如权利要求4所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，所述第三温度区间对应的偏置电流值与温度成线性关系，并且偏置电流值范围为[a,b]。

6.如权利要求1所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，监控值为光接收功率值。

7.如权利要求1所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，在老化板上布置多个所述光模块，将上位机与多个所述光模块电连接，并行读取多个所述光模块在老化前和老化后的监测值，输出多个所述光模块的老化测试结果。

8.如权利要求7所述的一种光模块老化测试方法，其特征在于，输出多个所述光模块中不合格品的信息。

9.一种光模块老化测试系统，其特征在于，所述光模块包括光发射端口、光接收端口和监控模块，所述监控模块用于根据所述光接收端口接收到的信号生成监测值，所述系统包括：

光纤，用于将所述光发射端口和所述光接收端口连接；

上位机，用于将读取所述监控模块在老化前和老化后的监测值，根据老化前和老化后的监测值变化输出老化测试结果。

10.如权利要求9所述的一种光模块老化测试系统，其特征在于，还包括老化板，所述老化板用于在其上布置多个所述光模块并提供多个所述光模块与所述上位机通信的接口。