[发明专利]一种芯片引脚共面度的测量方法和装置在审
| 申请号： | 202111597698.6 | 申请日： | 2021-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN114279371A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 刘宇;王玉龙 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片引脚共面度测量方法和装置，该方法先将图像采集设备的拍摄方向、基准面、光源发出的光线方向位于同一水平线后，再打开光源对当前待测芯片的待测面进行拍摄，得到第一图像信息；而后通过处理设备对第一图像信息并进行分析，判断待测芯片是否合格。当芯片引脚共面度不符合要求时，通过将第一图像信息与合格标准信息进行比较就可以及时检测得出，而后可以对不合格的待测芯片进行处理，保证后续环节的顺利进行，有效提升产品的良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 引脚 共面度 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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