[发明专利]芯片测试机台及方法在审
| 申请号： | 202111588420.2 | 申请日： | 2021-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN114414982A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 翁伟明;何毅阳;陈晓森 | 申请（专利权）人： | 珠海妙存科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 张龙哺 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试机台及方法，芯片测试机台包括：包括：机架；控制台，所述控制台可沿纵向移动地设置在所述机架上，所述控制台用于放置DRAM测试板；按压机构，所述按压机构可沿竖直方向移动地设置在所述机架上，所述DRAM测试板位于所述控制台与所述按压机构之间，所述按压机构用于压合所述DRAM测试板；以及分Bin控制板，所述分Bin控制板设置在所述机架上，所述分Bin控制板与所述DRAM测试板电连接。芯片测试方法采用上述的测试机台实现适用于小规模生产的半自动化芯片测试，并且适用于芯片的研发测试，使用方便，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 机台 方法 | ||
【主权项】：
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