[发明专利]芯片测试机台及方法

说明书

本发明公开了一种芯片测试机台及方法，芯片测试机台包括：包括：机架；控制台，所述控制台可沿纵向移动地设置在所述机架上，所述控制台用于放置DRAM测试板；按压机构，所述按压机构可沿竖直方向移动地设置在所述机架上，所述DRAM测试板位于所述控制台与所述按压机构之间，所述按压机构用于压合所述DRAM测试板；以及分Bin控制板，所述分Bin控制板设置在所述机架上，所述分Bin控制板与所述DRAM测试板电连接。芯片测试方法采用上述的测试机台实现适用于小规模生产的半自动化芯片测试，并且适用于芯片的研发测试，使用方便，成本低。

技术领域

本发明涉及测试设备技术领域，特别涉及一种芯片测试机台及方法。

背景技术

相关技术中，行业内成熟的有两种测试机台类型：一种是全自动机台，具有取放芯片和分Bin功能，另一种是仅具备取放芯片功能，不具备分Bin功能，前面两种设备价格昂贵，不适用小规模生产以及设计公司内部IC测试使用。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种芯片测试机台及方法，实现适用于小规模生产的半自动化芯片测试，并且适用于芯片的研发测试，使用方便，成本低。

根据本发明第一方面实施例的芯片测试机台，包括：机架；控制台，所述控制台可沿纵向移动地设置在所述机架上，所述控制台用于放置DRAM测试板；按压机构，所述按压机构可沿竖直方向移动地设置在所述机架上，所述DRAM测试板位于所述控制台与所述按压机构之间，所述按压机构用于压合所述DRAM测试板；以及分Bin控制板，所述分Bin控制板设置在所述机架上，所述分Bin控制板与所述DRAM测试板电连接。

根据本发明实施例的芯片测试机台，至少具有如下有益效果：通过人工将DRAM测试板放置在控制台上，并且DRAM测试板位于按压机构和控制台之间，分Bin控制板与DRAM测试板电连接，通过按压机构产生的下压力自动将DRAM测试板压合，实现取放芯片需要人工操作，压合或分Bin过程自动化，适用于小规模生产的半自动化芯片测试，并且适用于芯片的研发测试，使用方便，成本低。

根据本发明的一些实施例，所述机架包括台面和机箱，所述按压机构包括托盘、驱动组件和传动组件，所述驱动组件设置在所述机箱内，所述传动组件一端与所述驱动组件连接，所述传动组件另一端穿过所述台面与所述托盘连接，所述托盘位于所述台面上，所述驱动组件通过所述传动组件带动所述托盘沿竖直方向移动。

根据本发明的一些实施例，所述传动组件包括传动架和四根导杆，所述台面上开设有开口和四个导向槽，所述传动架一端与所述驱动组件连接，所述传动架另一端穿过所述开口与所述托盘连接，四个所述导杆一端分别与四个所述导向槽滑动连接，四根所述导杆另一端与所述托盘连接。

根据本发明的一些实施例，所述驱动组件为电机，所述传动架上设置有套筒，所述电机的输出轴上设置有外螺纹，所述套筒上设置有与所述输出轴配合的内螺纹。

根据本发明的一些实施例，所述控制台上设置有若干第一开槽，所述托盘上设置有若干第二开槽，所述第一开槽可供所述DRAM测试板下端面的芯片器件插入，所述第二开槽可供所述DRAM测试板上端面的芯片器件插入。

根据本发明的一些实施例，所述控制台底部设置有两根滑轨，所述台面上设置有四个滑块，一根所述滑轨与两个所述滑块滑动连接。

根据本发明的一些实施例，所述按压机构还包括控制面板，所述控制面板设置在所述台面上，所述分Bin控制板和所述驱动组件均与所述控制面板电连接。

根据本发明的一些实施例，还包括切换开关，所述切换开关设置在所述机架上，所述切换开关与所述DRAM测试板电连接，所述切换开关用于适配不用的Socket插座。

根据本发明的一些实施例，所述机箱内设置有Tray盘放置区，所述台面上设置有储物柜。