[发明专利]基于晶圆图像识别集成电路芯片真伪的方法、装置和设备在审
| 申请号： | 202111582476.7 | 申请日： | 2021-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN114266747A | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 李文发;刘云锋 | 申请（专利权）人： | 云汉芯城（上海）互联网科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06Q30/00 |
| 代理公司： | 北京远创理想知识产权代理事务所(普通合伙) 11513 | 代理人： | 卫安乐 |
| 地址： | 201612 上海市松江区漕河泾开*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于晶圆图像识别集成电路芯片真伪的方法，包括获取样品芯片的第一晶圆图像以及待验芯片的第二晶圆图像；根据所述第一晶圆图像得到第一变异曲线，根据所述第二晶圆图像得到所述第二变异曲线；基于所述第一变异曲线和所述第二变异曲线，确定所述待验芯片的真伪。本发明最大限度的减弱晶圆图像中的人为噪声的影响，提高了对芯片真伪的识别率。本发明还涉及一种基于晶圆图像识别集成电路芯片真伪的装置、一种存储介质和设备。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 图像 识别 集成电路 芯片 真伪 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
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