[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111518451.0 | 申请日： | 2021-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN114235758A | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 解三霞;时广军;周钟海;姚毅;杨艺 | 申请（专利权）人： | 苏州凌云视界智能设备有限责任公司;凌云光技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/01;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 侯军洋 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市工业园区长阳*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测物体表面的原始灰度图像；将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果；通过上述技术方案，在有效提取缺陷的基础上，提高了检测速度，满足了物体缺陷的快速检测要求。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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