[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括：获取待检测物体表面的原始灰度图像；将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果；通过上述技术方案，在有效提取缺陷的基础上，提高了检测速度，满足了物体缺陷的快速检测要求。

技术领域

本申请实施例涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

物体的表面缺陷对美观度、舒适度和使用性能等带来不良影响，所以生产企业对物体的表面缺陷进行检测以便及时发现。在物体检测过程中，检测速度是影响生产企业经济效益的关键因素。

现有技术中，在复杂背景下进行微弱凹凸点类型的缺陷检测时，通常需要先对物体原始灰度图像进行傅里叶变换，在频域中消除纹理信息，然后使用傅里叶反变换得到背景平滑缺陷增强的图像，最后通过阈值分割提取出缺陷。然而，一次傅里叶变换的时间至少在20毫秒以上，根本做不到在10毫秒内检测完，检测速度受到很大影响，无法满足物体缺陷的快速检测要求。

因此，针对现有技术中存在的问题，亟待进行改善。

发明内容

本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，以在有效提取缺陷的基础上，提高检测速度，满足物体缺陷的快速检测要求。

第一方面，本申请实施例提供了一种缺陷检测方法，该方法包括：

获取待检测物体表面的原始灰度图像；

将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；

对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果。

第二方面，本申请实施例还提供了一种缺陷检测装置，该装置包括：

灰度图像获取模块，用于获取待检测物体表面的原始灰度图像；

灰度调整模块，用于将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；

检测结果确定模块，用于对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果。

第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，所述设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面实施例所提供的任意一种缺陷检测方法。

第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一方面实施例所提供的任意一种缺陷检测方法。

本申请实施例通过获取待检测物体表面的原始灰度图像；将原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；对灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定待检测物体的缺陷检测结果。通过上述技术方案，在进行图像阈值分割之前，可以先基于凹凸点缺陷存在亮暗相接的特性，利用邻域像素点的灰度值，对原始灰度图像中的各像素点进行灰度调整，使得凹凸点缺陷相比于背景中的噪声可以更加明显，之后再在灰度调整图像上进行阈值分割，可以快速从原始灰度图像中检测到缺陷，上述缺陷检测过程快速有效，不用经过复杂费时的傅里叶变换处理，在有效提取缺陷的基础上，提高了检测速度，满足了物体缺陷的快速检测要求。

附图说明