[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测物体表面的原始灰度图像；

将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；

对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像，包括：

确定掩膜尺寸，并根据所述掩膜尺寸，确定该像素点的掩膜区域内的邻域像素点；

根据所述掩膜区域内的邻域像素点之间的最大灰度差值，确定所述灰度调整图像中该像素点的像素值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定掩膜尺寸，包括：

根据所述原始灰度图像中各像素点的像素值，估计所述原始灰度图像的缺陷区域；

根据所述缺陷区域，确定所述掩膜尺寸。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像之前，所述方法还包括：

对所述原始灰度图像进行缩小处理，以更新所述原始灰度图像。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述原始灰度图像进行缩小处理，以更新所述原始灰度图像，包括：

基于设定缩小系数，采用双线性插值算法对所述原始灰度图像进行缩小处理，以更新所述原始灰度图像。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述设定缩小系数根据以下方式确定：

根据所述原始灰度图像，确定所述原始灰度图像中亮度噪点的平均像素个数；

将所述平均像素个数的倒数确定为所述缩小系数。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果，包括：

确定阈值分割结果中缺陷参考区域的中心坐标和区域大小；

根据所述设定缩小系数、所述中心坐标和所述区域大小，确定所处待检测物体缺陷所在的真实区域。

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

灰度图像获取模块，用于获取待检测物体表面的原始灰度图像；

灰度调整模块，用于将所述原始灰度图像中的各像素点，根据该像素点的邻域像素点的灰度值，对该像素点的灰度值进行调整，得到灰度调整图像；

检测结果确定模块，用于对所述灰度调整图像进行阈值分割，并根据阈值分割结果，确定所述待检测物体的缺陷检测结果。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一项所述的一种缺陷检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的一种缺陷检测方法。