[发明专利]延迟电路测试方法以及测试电路在审
| 申请号： | 202111439467.2 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN115598492A | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 纪国伟;余俊锜;张志伟 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张丹 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本公开涉及延迟电路测试方法以及测试电路。说明书提出一种延迟电路测试方法以及测试电路，测试电路主要元件包括可由一串列相接的逻辑门组成的延迟电路、设于延迟电路输入端的时脉产生器，用以产生一或多个周期的时脉信号，以及设于延迟电路输出端的计数器，用以计数经延迟电路延迟的时脉信号。测试电路通过切换线路至时脉产生器与计数器而实现一测试模式，测试电路根据计数器产生的计数结果与时脉产生器产生的时脉信号的周期数量的比对结果，检查延迟电路是否有误。 | ||
| 搜索关键词： | 延迟 电路 测试 方法 以及 | ||
【主权项】：
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